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氧化亞銅(Cu2O)是一種性能優異的半導體材料,它具有2.1eV(590nm)的直接帯隙以及很高的可見光吸收系數,再加上它具有無毒、低價、原料豐富等優點,已成為太陽能轉化與利用研究領域的重要材料。理論預計基于Cu2O的太陽能電池效率可達20%,通過摻雜引入合適的中間帶(intermediate band)后,其光電轉換效率的理論極限可進一步提高到~60%。同時,Cu2O具有光催化活性,可以直接利用可見光來催化水的裂解產生氫氣。
中國科學院物理研究所/北京凝聚態物理國家實驗室(籌)清潔能源前沿研究重點實驗室杜小龍研究組持續開展了Cu2O單晶薄膜的可控生長、摻雜及缺陷調控等一系列研究工作,獲得了一些重要進展。Cu2O中Cu處于中間價態,這為單一價態Cu2O的制備帶來了困難,梅增霞副研究員、李俊強博士、杜小龍研究員等通過對Cu膜氧化動力學過程的系統研究,實現了氧化過程的精確控制,抑制了欠氧化或過氧化所造成的金屬Cu或二價CuO團簇的形成,并進一步發展了Cu2O的外延生長工藝,利用分子束外延法在ZnO、MgO、SrTiO3等多種襯底上制備出高質量Cu2O單晶薄膜。通過調節富銅/富氧生長條件,實現了薄膜中本征缺陷種類及濃度的調控,在室溫下觀察到了強烈的激子發光,并證實了銅空位(VCu)是影響激子特性的主要原因,而氧空位(VO)含量對激子發光的影響較小。
摻雜是調控Cu2O光電特性以滿足器件應用需要的必要手段,最近該團隊和E02組孟慶波研究員、SF3組紀愛玲副研究員以及挪威奧斯陸大學的Andrej Kuznetsov教授等合作,通過氮摻雜技術實現了對Cu2O的電性調控,并系統研究了雜質和缺陷在Cu2O晶格中的動力學行為。N原子摻入會占據O原子位形成替位原子,還會導致薄膜中VO含量增加,并有部分N原子會形成填隙原子(Ni)。Ni是一種在研究中被長期忽視的缺陷,然而該團隊的研究結果證明:它與其他缺陷的相互作用對Cu2O薄膜的光電性能產生了重要影響。在適當的退火條件下,Ni能夠遷移到VO的位置填補這一空位,導致VO和Ni減少以及NO增加,從而使薄膜性質發生相應的改變。這一工作發表在Scientific Reports 4, 7240 (2014)。基于對氮摻雜機理的理解,通過對摻雜及退火條件的設計,可以大幅提高Cu2O薄膜光電性能,為其在能源器件中的應用打下堅實的材料基礎。
上述工作得到了科技部、國家自然科學基金委和中國科學院的項目資助。
Cu2O摻雜機理研究論文:Scientific Reports 4, 7240 (2014)
Cu膜氧化動力學過程研究論文:Chin. Phys. B 21, 076401 (2012)
Cu2O單晶薄膜外延生長研究論文:J. Cryst. Growth 353, 63 (2012)
Cu2O激子發光研究論文:Opt. Mater. Express 3, 2072 (2013)
圖1. Cu2O單晶薄膜的制備:ZnO模板上(a)Cu2O(111)和(b)Cu2O(110)薄膜的XRDθ-2θ掃描結果及RHEED監測結果;(c)ZnO/Cu2O異質結原型器件示意圖及I-V測試結果;(d)藍寶石上Cu2O單晶薄膜的XRD θ-2θ掃描及RHEED監測結果;(e)藍寶石上單晶Cu2O薄膜的XRD ф掃描結果。
圖2. Cu2O光電性能調控及缺陷研究:(a)摻氮樣品的XRD θ-2θ?掃描結果;霍爾測試得出的(b)電性隨摻雜濃度變化及(c)電性隨退火溫度變化的結果;(d)室溫下PL測試結果以及用聲子輔助的模型對激子發光峰的擬合;(e)摻氮樣品的室溫PL譜;(f)氮摻雜樣品中雜質缺陷作用機理示意圖。